隨著集成電路技術的飛速發展，芯片廣泛應用于智能手機、汽車、醫療、保險、能源、通信和工業自動化等基礎設施領域，已經成為經濟發展和國家安全的命脈。我國對芯片的研究和起步較晚且嚴重依賴國外進口，已經成為制約國家競爭力和信息安全的關鍵因素，不僅導致國家缺芯、芯片“卡脖子”，還可能潛在各種安全漏洞。我校汪鵬君教授團隊針對隧穿磁阻傳感器的微弱信號檢測和安全防護等問題，提出一種高精度隧穿磁阻傳感器讀取專用集成電路（Application Specific Integrated Circuit, ASIC）和基于隧穿磁阻傳感器的物理不可克隆函數（Physical unclonable functions, PUF）芯片。

上述研究成果近日分別發表在《IEEE Transactions on Circuits and Systems—I: Regular Papers》和《IEEE Sensors Journal》期刊上。論文的第一作者和通信作者是溫州大學電氣與電子工程學院李翔宇博士后和汪鵬君教授。《IEEE Transactions on Circuits and Systems—I: Regular Papers》、《IEEE Sensors Journal》是國際電氣與電子工程師協會創辦的電路與系統、智能傳感器領域的頂級期刊。該項研究得到了國家自然科學基金重點項目、面上項目和青年項目的資助。上述工作是我校“集成電路與智能系統”團隊在專用集成電路芯片設計和集成電路硬件安全方向上取得的又一重要研究成果。

論文信息：

[1]Li Xiangyu, Wang Pengjun, Li Gang, Ni Li, Zhang Yuejun. Design of a Novel Self-Test-on-Chip Interface ASIC for Capacitive Accelerometers, IEEE Transactions on Circuits and Systems—I: Regular Papers, 2023, 70(7): 2834-2843.

[2]Li Xiangyu, Wang Pengjun, Li Gang, Zhang Yuejun. Design of Interface Circuits and Lightweight PUF for TMR Sensors, IEEE Sensors Journal, 2023, 23(11), 11754-11761.

論文鏈接：

[1]http://doi.org/10.1109/JSEN.2023.3266816

[2]http://doi.org/10.1109/TCSI.2023.3268625